奥林巴斯红外显微镜是一款近红外显微分光测定仪，它可以高速、高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率，因此最适用于光学元件与微小的电子部件等产品。

　　奥林巴斯红外显微镜使用平面光栅及线传感器进行全波长同时分光测定，从而实现高速测定。将专用物镜与环形照明组合，不需要进行被检测物背面的防反射处理，就可测定最薄的反射率。新设计了可以在 017~70um 的测定区域中进行非接触测定的专用物镜。通常的分光光度计不能进行测定的细小电子部件或镜片等的曲面，也可以实现再现性很高的测定。

　　奥林巴斯红外显微镜根据测定的分光反射率数据进行单层膜或多层膜的膜厚解析。可以根据用途选择最佳的测定方法。它的测定方法分为峰谷法、傅里叶转换法、曲线调整法三种：

　　峰谷法：这是一种根据测定的分光反射率值的峰值与低谷的周期性计算出膜厚的方法，对于测定单层膜是有效的。不需要复杂的设置，可以简单地求出。

　　傅里叶转换法：这是一种根据测定的分光反射率值的周期性计算膜厚的方法，对于单层膜及多层膜的测定有效。难以检测出峰值及低谷等时，可以几乎不受噪音的影响进行解析。

　　曲线调整法：这是一种通过推算测定的分光反射率值与根据某种膜构造计算的反射率的差达到最小的构造计算出膜厚的方法，对于单层膜及多层膜的测定有效。还可以进行不会出现峰值及低谷的薄膜解析。